內置（zhì）4路脈衝發生器，用於內部源（yuán）調製、中頻門控製，並從後麵（miàn）板輸出。每路脈衝發生器的脈寬和延時獨立可設。
源調製來（lái）源包括後麵板輸入、內部脈衝發生器（qì）和常開、常閉等多種狀（zhuàng）態，既可利用外部脈衝對矢量網絡分析儀的源（yuán）進行調製，也可（kě）以（yǐ）使其處於連續波（bō）狀態，通過觸發（fā）同步模（mó）式進行測量，為T/R組件、天線收發模塊等測試提供有力支撐。
提供完善的混頻器/變頻器（qì）特性設置，支持雙階本振、外部本振源輸入；支持線性掃、功率掃、段掃等（děng）多種掃描類型；通過簡單設置可自動完成（chéng）複雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計（jì）算；支持源端口功率、本振（zhèn）端口功率、衰減、功率掃特性設（shè）置等。
提供完整的混頻器/變頻器（qì）幅度響（xiǎng）應、絕對相（xiàng）位及（jí）絕對時延響應測量能力。校準（zhǔn）過程（chéng）中引入雙混頻器實現參考通路變頻與校準通路的（de）變頻。引入的（de）雙混頻器（qì）要求與被測件的變頻特性一致，且校準混頻器要求變頻特性互易。
單次連接（jiē）即可完成混頻器/變頻器複數特性測量，幅度和相位測量精度高。
增益（yì）壓縮測量功能能夠通過一（yī）次連接、一（yī）次校準完（wán）成有源器件（jiàn）在工作頻帶內的線性增益、壓縮點增益、壓縮點輸入功率、壓（yā）縮點輸出功率、線性輸入匹配等壓縮參數測量。
提供三維（wéi）視圖功能，更好地展（zhǎn）示被測件在激勵狀態下的工（gōng）作性能，另外（wài）還可以展（zhǎn）示頻率切麵和（hé）功率切麵，可以直（zhí）觀展現被測件（jiàn）在每個頻率點（diǎn）和每個功率（lǜ）點的（de）特性。
一次連接，可同時測試S參數、噪（zào）聲係數、噪聲參數、增（zēng）益壓縮和變頻增益等多種參數。基於冷源噪聲係數測（cè）試方法，可（kě）進行精確的噪聲係數和噪聲參（cān）數測試。通過構建先進的噪聲（shēng）相關矩陣模型（xíng），結合矢量網絡分（fèn）析儀精密的S參數校準，適用於較小噪聲係數被測件的精確測試。測量動態範圍最（zuì）大可達55dB，適用於較大增益被測件的測試。
矢量網絡分析儀的每（měi）個端口都可以完成被測件的輸入譜和輸出譜的測量，可（kě）在小的分辨率帶寬下快速地定位被測件雜散譜和（hé）諧波的狀態。
針對有源器件的（de）測試，頻譜測量功能可提（tí）供更多的測量參（cān）數，單台儀器通過單次連接可實現（xiàn）常規的S參數測試（shì）、雜散和諧（xié）波（bō）的（de）定位測量；完備的比值和絕對測量誤差（chà）修正技術可提供更準確的測量（liàng）結果（guǒ）。
具備強大的信號完整性測（cè）量分析（xī）能力，可提供微米級的空間分辨率。單一視圖同（tóng）時完成時域和頻域測試分析，可以精準測試傳輸線上阻抗（kàng）特性的變化（huà）情況；便捷的近（jìn）端與遠端串擾測試，用於測試多條（tiáo）傳輸線之間相互影響的程度（dù）。
高級時域分析選件具備（bèi）基於網（wǎng）絡參數的虛擬眼圖生成及（jí）分析功能。根據不同的高（gāo）速數字通信標準，高級時域分析選件可以使用預先定義好的眼圖模板進行高效率Pass/Fail測試。
寬頻帶測試，可用於真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數的分析，簡化差分器件的諧波性能測試複雜（zá）度。
單（dān）次校準同時完成多通道的誤差（chà）修正，設置和測量參（cān）數的編輯可通過（guò）XML文件的方式進行，一鍵（jiàn）實現參數導入。
對於非標準接頭器件測試（shì），如封（fēng）裝微波器件、在片器件（jiàn）等，此類器件無法與矢量（liàng）網絡分析儀直接相連。通常使用夾具將被測（cè）件（jiàn）連接到矢量網絡分析儀上，但同時夾具也引入了測量誤差（chà）。自動夾具移除功能可（kě）以進行夾具參數的提取、存儲以及夾具去嵌入（rù），最終獲得被測件的真（zhēn）實參數。
界麵簡潔直觀，便於操作，提高測試效（xiào）率
1-10MHz外參考輸入/輸出接口
2-110V/220V自適應電源輸入
3-可拆卸CPU模（mó）塊，配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口
4-激勵輸出、本振（zhèn）輸出等接口，提供靈活的測量配置，提供（gòng）靈活的測量（liàng）配置
5-外中（zhōng）頻（pín）輸入接口，脈衝輸入輸出接口
6-偏置T配置輸（shū）入接口
7-自動測試接口，觸發輸入/輸出接口，噪聲源電源（yuán）接口
