KEYENCE 基恩士 分光幹涉位移型多層膜厚（hòu）測量（liàng）儀 SI-T 係列

針對測（cè）量場景量身定製的陣（zhèn）容

實現廣範圍測量

在拉伸製程等過程（chéng）中，可以應用（yòng）於（yú）上遊至下（xià）遊的各種場所。

借（jiè）助 KEYENCE配備的光量累計功能（néng），
類似粘附層（céng）等粗糙的表（biǎo）麵，也可以實現穩定測量。