WI-5000 係列幹涉式同軸3D位移測量儀最快僅需 0.13 秒，即可捕捉到最（zuì）大尺寸為 10×10 mm的目標區域（yù）的三維圖像。該傳感器能（néng）同時記錄目（mù）標表麵 80,000 個高度數據點（diǎn），擁有超大檢測範圍（最大可達 10 × 10 mm），可瞬間測（cè）量麵粗糙度（Sa、Sz）和線粗糙度（Ra、Rz），並在線識別是否為良品。WI-5000 係（xì）列應用白光幹涉技術，能夠有效應對鏡麵、透（tòu）明與深色材料表麵的測量挑戰，顯著提升複雜材質下的測（cè）量效率。該傳感器由於采用同（tóng）軸測（cè）量，可（kě）有效減少溝槽及其他高度急劇變化的形狀中無法進行（háng）精準（zhǔn）測量的盲區。為了用於離線檢測，備有（yǒu）可固定（dìng）測量頭的專用（yòng）底座,隻要使用位置補（bǔ）正功（gōng）能，即可無需繁瑣的定位，實（shí）現僅需放置就能完成的檢測。
針對最大 10 × 10 mm 的（de）測量區域，可瞬間獲取 8 萬個點的高度。 由於采用白光幹涉原理，不（bú）受材質/顏色、死角的影響，實現了微米（mǐ）級的高精度測量。
測量多點時，需要高（gāo）精度且高速掃描目標物。 因此，會將時間浪費在移動載物（wù）台上，不（bú）易進行全（quán）數檢測。 由（yóu）於 WI-5000 係列是以麵進（jìn）行同（tóng）時測量，因此可大幅縮短測量時間，實現全數檢測。
為了用於離線檢測，備有可（kě）固定傳感器頭的專用底座。 配備可削減檢測工時的各種實用功能。 改善從簡易測量到保存數（shù）據（jù）等各種情況的可操作性。
